高低溫低氣壓試驗(yàn)箱的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

 目前有關(guān)高低溫低氣壓試驗(yàn)箱的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)有:
GB/T2421.1-2008 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 總則
GB/T2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M:低氣壓
GB/T2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T2423.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z∕BM:高溫∕低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T2423.27-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)
GB/T2424.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度∕低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
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